Pricelists.org Pricelists.org Zaloguj się Załóż konto

Electron Crystallography

☆☆☆☆☆ (0 opinii)
Pokaż historię cen
Electron Crystallography
Najniższa cena (z dostawą)
54 339,00 JPY
Typowa cena11 207,13 PLN
Najniższa (90 dni)400,89 PLN
Liczba ofert6
Ostatnia aktualizacja1 tydzień temu
Zobacz najlepszą ofertę
Historia ceny (90 dni)
Pełna historia
2026-08-08 2026-08-15
Historia cen
ZaktualizowanoCena
2026-08-08406,59
2026-08-15400,89
Sprzedawca Cena produktu Dostawa Razem Dostępność Aktualizacja
SP SpringerNatureLink Shop INT 54 339,00 JPY 0 zł 54 339,00 JPY Dostępny 6 dni temu Zobacz ofertę
SP Springer Nature Author 54 339,00 JPY 15,00 JPY 54 354,00 JPY Dostępny 1 tydzień temu Zobacz ofertę
SP SpringerNatureLink Shop INT 379,99 USD 0 zł 379,99 USD Dostępny 6 dni temu Zobacz ofertę
SP SpringerNatureLink Shop INT 449,99 USD 0 zł 449,99 USD Dostępny 6 dni temu Zobacz ofertę
SP SpringerNatureLink Shop INT 449,99 USD 19,00 USD 468,99 USD Dostępny 6 dni temu Zobacz ofertę
SP SpringerNatureLink Shop INT 417,99 EUR 0 zł 417,99 EUR Dostępny 6 dni temu Zobacz ofertę

Ceny i dostępność mogą ulec zmianie. Ostatnia aktualizacja: 08.08.2026 23:40.

EAN 9789048149650
Springer Nature
0,0
☆☆☆☆☆
0 opinii
5★ 0%
4★ 0%
3★ 0%
2★ 0%
1★ 0%

Opinie o produkcie

Ocena
Brak opinii — bądź pierwszy!
The re-emergent field of quantitative electron crystallography is described by some of its most eminent practitioners. They describe the theoretical framework for electron scattering, specimen preparation, experimental techniques for optimum data collection, the methodology of structure analysis and refinement, and a range of applications to inorganic materials (including minerals), linear polymers, small organic molecules (including those used in nonlinear optical devices), incommensurately modulated structures (including superconductors), alloys, and integral membrane proteins. The connection between electron crystallography and X-ray crystallography is clearly defined, especially in the utilisation of the latest methods for direct determination of crystallographic phases, as well as the unique role of image analysis of high-resolution electron micrographs for phase determination. Even the aspect of multiple beam dynamic diffraction (once dreaded because it was thought to preclude ab initio analysis) is considered as a beneficial aid for symmetry determination as well as the elucidation of crystallographic phases, and as a criterion for monitoring the progress of structure refinement. Whereas other texts have hitherto preferentially dealt with the analysis of electron diffraction and image data from thin organic materials, this work discusses - with considerable optimism - the prospects of looking at `harder' materials, composed of heavier atoms. Audience: Could be used with profit as a graduate-level course on electron crystallography. Researchers in the area will find a statement of current progress in the field.

Podobne produkty