Stochastische Analysis
☆☆☆☆☆
(0 opinii)
Najniższa cena (z dostawą)
11 359,00 JPY
Typowa cena1 210,48 PLN
Najniższa (90 dni)79,43 PLN
Liczba ofert3
Ostatnia aktualizacja6 dni temu
Historia ceny (90 dni)
Pełna historia
2026-08-08
2026-08-15
| Zaktualizowano | Cena |
|---|---|
| 2026-08-08 | 79,43 |
| 2026-08-15 | 79,43 |
| Sprzedawca | Cena produktu | Dostawa | Razem | Dostępność | Aktualizacja | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| SP SpringerNatureLink Shop INT | 11 359,00 JPY | 0 zł | 11 359,00 JPY | Dostępny | 6 dni temu | Zobacz ofertę |
| SP SpringerNatureLink Shop INT | 87,37 EUR | 25,00 EUR | 112,37 EUR | Dostępny | 1 tydzień temu | Zobacz ofertę |
| SP Springer Nature Author | 87,37 EUR | 0 zł | 87,37 EUR | Dostępny | 1 tydzień temu | Zobacz ofertę |
Ceny i dostępność mogą ulec zmianie. Ostatnia aktualizacja: 15.08.2026 07:56.
EAN
9783519022299
Springer Nature
0,0
☆☆☆☆☆
0 opinii
5★
0%
4★
0%
3★
0%
2★
0%
1★
0%
Opinie o produkcie
Brak opinii — bądź pierwszy!
"... Dieses Buch gibt einen guten Überblick über die mathematische Theorie der stochastischen Semimartingale, kann selbstverständlich nicht alle Gebiete vollständig abdecken, behandelt jedoch die Kernpunkte hervorragend." C. Cenker. Monatshefte für Mathematik, Wien "... Zusammenfassend ist dieses Buch sicher als ein Standardwerk der stochastischen Analysis anzusehen und kann vorbehaltlos empfohlen werden." G. Eder. Internationale Mathematische Nachrichten, Wien "In summary, it can be stated that the authors deserve acknowledgemnt for their courage in undertaking an immense work in collecting material, arranging it consistently and writing it up in a neat fashion. Moreover, they succeeded in stressing the well-known message that entering stochastic analysis with the aim of reaching a deeper understanding of the theory and its methods can hardly be achieved 'without tears'. One admires the authors even more once one realizes that they both are self-taught in the field they are writing about and that the second named author just started to publish on the subject." H.Heyer. Metrika