Pricelists.org Pricelists.org Zaloguj się Załóż konto

Integrated Circuit Test Engineering

☆☆☆☆☆ (0 opinii)
Pokaż historię cen
Integrated Circuit Test Engineering
Najniższa cena (z dostawą)
10 310,00 JPY
Typowa cena5 184,75 PLN
Najniższa (90 dni)63,99 PLN
Liczba ofert2
Ostatnia aktualizacja1 tydzień temu
Zobacz najlepszą ofertę
Historia ceny (90 dni)
Pełna historia
2026-08-08 2026-08-15
Historia cen
ZaktualizowanoCena
2026-08-0810 295,00
2026-08-1563,99
Sprzedawca Cena produktu Dostawa Razem Dostępność Aktualizacja
SP Springer Nature Author 10 295,00 JPY 15,00 JPY 10 310,00 JPY Dostępny 1 tydzień temu Zobacz ofertę
SP SpringerNatureLink Shop INT 85,00 EUR 19,00 EUR 104,00 EUR Dostępny 3 dni temu Zobacz ofertę

Ceny i dostępność mogą ulec zmianie. Ostatnia aktualizacja: 08.08.2026 23:19.

EAN 9781846281730
Springer Nature
0,0
☆☆☆☆☆
0 opinii
5★ 0%
4★ 0%
3★ 0%
2★ 0%
1★ 0%

Opinie o produkcie

Ocena
Brak opinii — bądź pierwszy!
Taking a three-pronged approach – test engineering from traditional-test, design and manufacturing view-points – Integrated Circuit Test Engineering encapsulates the subject as it stands today. After introductory background from basic testing rules to trends in technology, the reader learns about: fabrication processes; a complete range of detailed tests and procedures; how to design for testability; fault simulation; automatic test equipment and the economics of testing. The text incudes: • Worked examples and exercises, well-organized references and bibliography. • An introduction to the use of various software and languages such as MATLAB®, Spice, Verilog®-HDL and VHDL. • A series of experiments based on material downloaded from springeronline.com showing how to construct a hardware test arrangement for MS Windows PCs. This book is a practical tool for advanced undergraduate and graduate electronic engineering students, a resource for their tutors and a guide for the practising electronic engineer.

Podobne produkty