Pricelists.org Pricelists.org Zaloguj się Załóż konto

Integrated Circuit Test Engineering

☆☆☆☆☆ (0 opinii)
Pokaż historię cen
Integrated Circuit Test Engineering
Najniższa cena (z dostawą)
12 869,00 JPY
Typowa cena2 967,73 PLN
Najniższa (90 dni)37,18 PLN
Liczba ofert3
Ostatnia aktualizacja1 dzień temu
Zobacz najlepszą ofertę
Sprzedawca Cena produktu Dostawa Razem Dostępność Aktualizacja
SP Springer Nature Author 12 869,00 JPY 0 zł 12 869,00 JPY Dostępny 14 godzin temu Zobacz ofertę
SP SpringerNatureLink Shop INT 106,50 EUR 0 zł 106,50 EUR Dostępny 23 godziny temu Zobacz ofertę
VI VitalSource 506,62 ZAR 25,00 ZAR 531,62 ZAR Dostępny 1 dzień temu Zobacz ofertę

Ceny i dostępność mogą ulec zmianie. Ostatnia aktualizacja: 08.08.2026 06:09.

EAN 9781846280238
Springer Nature
0,0
☆☆☆☆☆
0 opinii
5★ 0%
4★ 0%
3★ 0%
2★ 0%
1★ 0%

Opinie o produkcie

Ocena
Brak opinii — bądź pierwszy!
Taking a three-pronged approach – test engineering from traditional-test, design and manufacturing view-points – Integrated Circuit Test Engineering encapsulates the subject as it stands today. After introductory background from basic testing rules to trends in technology, the reader learns about: fabrication processes; a complete range of detailed tests and procedures; how to design for testability; fault simulation; automatic test equipment and the economics of testing. The text incudes: • Worked examples and exercises, well-organized references and bibliography. • An introduction to the use of various software and languages such as MATLAB®, Spice, Verilog®-HDL and VHDL. • A series of experiments based on material downloaded from springeronline.com showing how to construct a hardware test arrangement for MS Windows PCs. This book is a practical tool for advanced undergraduate and graduate electronic engineering students, a resource for their tutors and a guide for the practising electronic engineer.

Podobne produkty