Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar; podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej; zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych; aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów; badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania; aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium; sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania; laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności; przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005. W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów.